歐奧電子是Prodigy在中國區(qū)的官方授權(quán)合作伙伴，ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協(xié)議分析儀測試解決方案不會收到EAR進(jìn)出口方面的管制。同時(shí)還有代理其他總類的協(xié)議分析儀，包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,車載以太網(wǎng)分析儀，以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時(shí)，歐奧電子也有提供高難度焊接，以及高速信號，如UFS，DDR3/DDR4，USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。不存在中間電平。所以定時(shí)分析就像一臺只有1位垂直分辨率的數(shù)字示波器。但是，定時(shí)分析并不能用于測試參量，如果你用定時(shí)分析測量信號的上升時(shí)間，那你就用錯(cuò)了儀器。如果你要檢驗(yàn)幾條線上的信號的定時(shí)關(guān)系，定時(shí)分析就是合理的選擇。如果定時(shí)分析前一次采樣的信號是一種狀態(tài)，這一次采樣的信號是另一種狀態(tài)，那么它就知道在兩次采樣之間的某個(gè)時(shí)刻輸入信號發(fā)生了跳變，但是，定時(shí)分析卻不知道精確的時(shí)刻。壞的情況下，不確定度是一個(gè)采樣周期。2.跳變定時(shí)如果我們要對一個(gè)長時(shí)間沒有變化的采樣并保存數(shù)據(jù)，跳變定時(shí)能有效地利用存儲器。使用跳變定時(shí)。協(xié)議分析儀就找歐奧電子。株洲PCIE協(xié)議分析儀售價(jià)

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UFS總線協(xié)議分析儀測試解決方案不會收到EAR進(jìn)出口方面的管制。同時(shí)還有代理其他總類的協(xié)議分析儀，包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,車載以太網(wǎng)分析儀，以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時(shí)，歐奧電子也有提供高難度焊接，以及高速信號，如UFS，DDR3/DDR4，USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。比較幀類型：可自行選擇；5、數(shù)據(jù)：可輸入對應(yīng)幀類型數(shù)據(jù)的十進(jìn)制，十六進(jìn)制，八進(jìn)制。設(shè)置效果如圖6所示：圖6幀查找屬性設(shè)置七、解碼數(shù)據(jù)準(zhǔn)確定位完成設(shè)置，則可以通過查找具體的查找類型進(jìn)行顯示，效果如圖7所示：圖7查找結(jié)果顯示此次查找共有68個(gè)查找結(jié)果，可通過如下操作觀測每一個(gè)查找結(jié)果，效果如圖8所示：圖8查找結(jié)果數(shù)據(jù)分析ZLG致遠(yuǎn)電子邏輯分析儀具有超大容量存儲、智能過濾存儲、高保真不間斷實(shí)時(shí)記錄、高效的協(xié)議分析平臺、觸發(fā)搜索多樣化、靈活的參數(shù)測量，能夠定位系統(tǒng)運(yùn)行出錯(cuò)時(shí)的特定波形數(shù)據(jù)。針對數(shù)字電路的開發(fā)和測試人員可以用邏輯分析儀對電路進(jìn)行精確的狀態(tài)或時(shí)序分析，以檢測分析電路設(shè)計(jì)中的錯(cuò)誤，從而迅速定位。

多總線上的數(shù)據(jù)有效窗口小于總線時(shí)間周期的一半。要精確采集總線上的數(shù)據(jù)，需符合以下條件：邏輯分析儀的建立/保持時(shí)間必須在數(shù)據(jù)有效窗口內(nèi)。圖12有效采集窗口由于與總線時(shí)鐘有關(guān)的數(shù)據(jù)有效窗口的位置根據(jù)總線類型的不同而有所變化，因此邏輯分析儀的建立/保持窗口的位置在數(shù)據(jù)有效窗口中必須是可調(diào)整的（相對于采樣時(shí)鐘，且具有較高分辨率）。例如：圖13調(diào)整采樣位置為了將建立/保持窗口（采樣位置）放置在數(shù)據(jù)有效窗口內(nèi)，邏輯分析儀可在每次采樣輸入時(shí)調(diào)整延遲（以定位每個(gè)通道的建立/保持窗口）。如果可以在單個(gè)通道上調(diào)整采樣位置，可以使邏輯分析儀的建立/保持窗口變小，因?yàn)榭梢孕?zhǔn)由探頭電纜和邏輯分析儀的內(nèi)部電路板跟蹤引起的偏移效應(yīng)，而且還可以看到邏輯分析儀的內(nèi)部采樣電路的建立/保持要求。但是，手動定位每個(gè)通道的建立/保持窗口需要花費(fèi)量時(shí)間。對于被測設(shè)備中的每個(gè)信號和每個(gè)邏輯分析儀通道來說，必須測量與總線時(shí)鐘（帶有示波器）相關(guān)的數(shù)據(jù)有效窗口，重復(fù)定位建立/保持窗口并運(yùn)行測量以查看邏輯分析儀是否正確采集數(shù)據(jù)，后再將建立/保持窗口定位在錯(cuò)誤采集數(shù)據(jù)的位置之間。使用具有眼定位（eyefinder)功能的邏輯分析儀，在手動調(diào)整。eMMC邏輯分析儀/訓(xùn)練器廠家找歐奧！

因?yàn)閭鬟f過來的信號幅度比較小。圖23探頭的信號完整性考慮探頭的負(fù)載效應(yīng)主要分為兩種類型：直流負(fù)載和交流負(fù)載。直流負(fù)載：探頭看起來象一個(gè)對地的直流負(fù)載，一般是20K歐姆。如果被測總線具有弱上拉或弱下拉特性（即上下拉電阻較），這個(gè)負(fù)載可能會導(dǎo)致邏輯錯(cuò)誤。直流負(fù)載主要由探頭尖的電阻決定，這個(gè)電阻阻值越，直流負(fù)載越小，阻值越小，直流負(fù)載越。交流負(fù)載：探頭包含寄生電容和電感。這些寄生參數(shù)會減小探頭帶寬和導(dǎo)致信號反射。我們需要在被測電路接收端和探頭尖處考慮信號完整性。探頭帶寬被降低主要來自2個(gè)方面：探頭電容和探頭與目標(biāo)連接的連線的電容。探頭導(dǎo)致信號反射的原因是4個(gè)方面：探頭電容和電感。探頭在被測總線上的探測位置；總線的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)；探頭和目標(biāo)間連線的長度。對于交流負(fù)載，我們需要考慮：探測點(diǎn)在傳輸線的位置，總線的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)和探頭和目標(biāo)間連線的長度。探頭的負(fù)載除了可以用復(fù)雜的Spice模型仿真分析外，也可以用簡單的RC模型簡單預(yù)估負(fù)載效應(yīng)。下圖是典型探頭的RC模型。圖24常用探頭的RC模型我們需要仔細(xì)考慮探頭和目標(biāo)之間的連線。為了可靠的電氣連接，有三種方式可選擇：短線探測（StubProbing),阻尼電阻探測。SDIO協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器廠家只找歐奧，服務(wù)好！惠州UART協(xié)議分析儀那家好

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